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日本日置C測試儀3504-50概述
封裝機(jī)、分選機(jī)、電容器的合格與否的判斷和等級(jí)分類等
■ BIN功能
C測量根據(jù)測量值多分類為14個(gè)等級(jí)※1，易于進(jìn)行分揀等。 ※1 3506,3505多為13個(gè)等級(jí)。3504-40無BIN功能。
■ 比較器功能
第yi參數(shù)(C)、第2參數(shù)(D)可各自設(shè)置上下限值。判定結(jié)果可進(jìn)行蜂鳴、LED顯示以及外部輸出，設(shè)定值始終顯示。
■ 存儲(chǔ)功能
測量數(shù)據(jù)可保存在主機(jī)。可通過GP-IB，RS-232C讀出。 3506-10 ………………………………..1,000個(gè) 3504-60, 3504-50, 3504-40 ……32,000個(gè)
■ 只需選擇的簡單操作&LED顯示
只需從面板標(biāo)記項(xiàng)目中進(jìn)行選擇，操作簡單。設(shè)定好的測量條件會(huì)點(diǎn)亮，能夠一目了然把握設(shè)定條件。
■ 觸發(fā)同步輸出功能
施加觸發(fā)后輸出測量信號(hào)，僅在測量時(shí)將信號(hào)施加到被測物上。因?yàn)槭窃诮佑|被測物時(shí)流過大電流，因此能夠減少接點(diǎn)的損耗。
■可存儲(chǔ)99※2組測量條件
多可保存99組測量條件，可迅速對應(yīng)在重復(fù)測量較多的產(chǎn)線上切換被測物的情況。可利用EXT I/O讀出任意測量條件。 ※2 3506-10多為70組。
■標(biāo)配接觸檢查功能
可檢測出測量過程中的接觸錯(cuò)誤。可另外管理有過接觸錯(cuò)誤的樣品，對提高成品率做出貢獻(xiàn)。
日本日置C測試儀3504-50特點(diǎn)
★ 高速測量2ms
★ 能根據(jù)C 和D （損耗系數(shù)*2）的測量值，進(jìn)行被測物合格與否的判斷
★ 對應(yīng)測試線，比較器功能/觸發(fā)輸出功能
★ 3504-60/-50用BIN的分選接口進(jìn)行被測物體的測試
★ 3504-40記錄工具，實(shí)現(xiàn)高速/低成本的測試
★ 查出全機(jī)測量中的接觸錯(cuò)誤，提高成品率
